ת"י 2 חלק 2

תקן זה מגדיר את השיטות לאנליזה כימית של צמנט. תקן זה מתאר השיטות לייחוס, ובמקרים מסוימים, שיטה חלופית שיכולה להיחשב שקילה (שוות ערך). במקרה של חילוקי דעות משתמשים רק בשיטות הייחוס. התקן מתאר שיטה חלופית המבוססת על ביצועים ועושה שימוש בפלואורנות של קרני רנטגן (XRF) עבור התרכובות הכימיות SO3 ,CAO ,FE2O3 ,AL2O3 ,SIO2, Cועבור 1,SRO ,MN2O3 ,P2O5 ,TIO2 ,NA2O ,K2O ,MGO ו-BR. כאשר שיטה זו מכוילת באופן נכון לפי הנהלים המתוארים ולפי חומרי הייחוס, היא שקילה לשיטות הייחוס, אך טרם קיבלה תוקף לשימוש כנוהל ייחוס למטרות התאמה וחילוקי דעות. אפשר ליישם אותה ליסודות רלוונטיים אחרים כאשר עורכים כול נאות. שיטה זו מבוססת על דוגמות הומוגניות מותכות (BEADS OF FUSED SAMPLE) ועל תיקוף אנליטי באמצעות חומרי ייחוס מורשים, יחד עם קריטריוני ביצועים. שיטה המבוססת על דוגמות אבקה לחוצות (PRESSED PALLETS) יכולה להיחשב שקילה, בתנאי שביצועי הניתוח מתאימים לאותם הקריטריונים. אפשר להשתמש בשיטות אחרות, בתנאי שהן מכוילות לפי שיטות הייחוס או לפי חומרי ייחוס בעלי הכרה בין-לאומית, במטרה להוכיח שהן שקילות לשיטות הייחוס. תקן זה מתאר שיטות החלות בעיקר על צמנט, אך ניתן ליישם אותן גם עבור מרכיביו. ניתן ליישם שיטות אלה גם עבור חומרים אחרים, כאשר שיטות אלה נזכרות בתקנים החלים עליהם. הדרישות המפורטות בתקנים מציינות באילו שיטות יש להשתמש.